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環球視點!羅德與施瓦茨發布在片器件測試解決方案


(資料圖)

羅德與施瓦茨為在片器件的完整射頻性能表征提供測試解決方案,該方案結合了羅德與施瓦茨強大的R&S ZNA矢量網絡分析儀和FormFactor先進的工程探針臺系統。半導體制造商可以在產品的開發、認證和生產階段執行可靠且可重復的在片器件特性測試。

關鍵詞: 解決方案 生產階段 矢量網絡分析儀

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